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首先在(zai)于實驗(yan)室(shi)環(huan)境(jing)上,需要選擇(ze)良好的(de)安裝(zhuang)場(chang)所(suo),此意才是(shi)使高(gao)低溫系列(lie)試驗(yan)設備(bei)的(de)壓縮機(ji)正確(que)使用空(kong)氣(qi)系統的(de)先決條(tiao)件。如果試驗(yan)設備(bei)的(de)試驗(yan)環(huan)境(jing)沒有事前(qian)的(de)規劃,殊(shu)不知如此草率的(de)結果,卻(que)形成日后壓縮機(ji)故(gu)障維修困(kun)難及壓縮空(kong)氣(qi)品質不良等(deng)的(de)原因。
一、這(zhe)里我們談到的(de)(de)高(gao)低(di)溫(wen)系(xi)列(lie)試(shi)驗設備包含:高(gao)低(di)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)(xiang)、高(gao)低(di)溫(wen)交變試(shi)驗箱(xiang)(xiang)、恒溫(wen)恒濕試(shi)驗箱(xiang)(xiang)、高(gao)低(di)溫(wen)濕熱(re)試(shi)驗箱(xiang)(xiang)、溫(wen)度沖擊試(shi)驗箱(xiang)(xiang)等,這(zhe)些設備的(de)(de)同一個(ge)制(zhi)冷(leng)(leng)核心(xin)——壓(ya)(ya)縮(suo)機(ji)。設備試(shi)驗系(xi)統的(de)(de)好壞,對于壓(ya)(ya)縮(suo)機(ji)的(de)(de)控制(zhi)性(xing)能有(you)著直接的(de)(de)聯系(xi)。制(zhi)冷(leng)(leng)壓(ya)(ya)縮(suo)機(ji)作(zuo)為溫(wen)度試(shi)驗機(ji)的(de)(de)核心(xin)配件,壓(ya)(ya)縮(suo)機(ji)的(de)(de)保(bao)養顯得尤(you)其(qi)重(zhong)要。
1、試驗(yan)箱應建立在(zai)硬質的地坪(ping)上,在(zai)安裝前須將基(ji)礎平面整水平,以避免壓縮機產生(sheng)震動而(er)引起噪音(yin)。
2、試驗箱工作場地電(dian)(dian)壓要保(bao)持穩定,反則會導致(zhi)電(dian)(dian)流過(guo)大或過(guo)小,常(chang)期在此條件下工作會導致(zhi)壓縮機損壞。
3、設(she)備(bei)應安置(zhi)在寬敞的(de)地方,空間狹(xia)小不利于(yu)后期的(de)維修(xiu)和保(bao)(bao)養(yang),特別是壓縮機的(de)冰凍機之散熱器(qi)(冷(leng)凝器(qi))應定期保(bao)(bao)養(yang),保(bao)(bao)持(chi)清潔。
4、由于壓縮(suo)機有(you)空(kong)(kong)氣(qi)(qi)循(xun)環系統(tong),如果(guo)設(she)備周圍環境的(de)空(kong)(kong)氣(qi)(qi)灰(hui)塵多,需加過濾裝置(zhi),同時,空(kong)(kong)氣(qi)(qi)中是絕(jue)對不允許含有(you)可(ke)燃(ran)氣(qi)(qi)體及腐蝕性氣(qi)(qi)體的(de),以免可(ke)能引起爆(bao)炸或內部銹蝕。整體來講(jiang),要保證空(kong)(kong)氣(qi)(qi)的(de)相(xiang)對濕度較低(di),灰(hui)常少(shao)量,通風(feng)良(liang)好。
5、壓(ya)(ya)縮的性能不宜(yi)(yi)受高(gao)溫(wen),環境溫(wen)度(du)低于(yu)30℃為宜(yi)(yi)。如果溫(wen)度(du)過高(gao),壓(ya)(ya)縮機(ji)的輸出空氣量(liang)就會減(jian)少。
二、高(gao)低溫試(shi)驗(yan)設備在試(shi)驗(yan)過程中,正確的(de)操作和合(he)理的(de)處(chu)理故障,有利(li)于(yu)壓縮機的(de)保養和延長(chang)使用壽命。
1、設備在(zai)試運轉(zhuan)時,嚴(yan)格(ge)檢查壓(ya)縮機(ji)(ji)的運轉(zhuan)方向,當發現(xian)反轉(zhuan)應立即(ji)停機(ji)(ji),切斷(duan)電(dian)源,把(ba)三相線(xian)任何(he)兩根對調再重(zhong)新開機(ji)(ji),否(fou)則會損壞壓(ya)縮機(ji)(ji)
2、試驗(yan)設備在(zai)工(gong)作中,定期檢驗(yan)壓縮機安全閥等保(bao)護系統(tong),確保(bao)其靈敏可靠。
3、在試驗過程(cheng)中不宜頻(pin)繁啟動壓(ya)縮機,壓(ya)縮機啟動的間(jian)隔時間(jian)為15分鐘。
步(bu)入式高低溫試驗(yan)箱(xiang)特點
1、 溫(wen)(wen)度(du):藥品長期測(ce)試(shi)實(shi)驗(yan)中的(de)(de)高溫(wen)(wen)實(shi)驗(yan)通常(chang)(chang)需要60℃,低(di)溫(wen)(wen)實(shi)驗(yan)需要0℃,均(jun)一度(du)為(wei)±2℃,因此我們在選擇箱體時應選擇的(de)(de)最低(di)要求為(wei)0-60℃,同時溫(wen)(wen)度(du)均(jun)一性越高越好。另外,藥品測(ce)試(shi)常(chang)(chang)常(chang)(chang)需要幾天設(she)置幾個月的(de)(de)連續(xu)實(shi)驗(yan),所以選擇質量(liang)和穩定(ding)性較(jiao)好的(de)(de)箱體顯得非(fei)常(chang)(chang)重要。
2、 濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du):根據(ju)藥品測(ce)試(shi)不同的實(shi)驗選擇(ze)對應的濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du)控制(zhi)范圍,如高濕(shi)(shi)實(shi)驗最(zui)高要求要在(zai)90%±5%的相對濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du)下(xia)進(jin)行,然而濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du)往往伴(ban)隨著溫度(du)(du)(du)(du)的改變而改變,各種品牌的測(ce)試(shi)箱濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du)測(ce)試(shi)標(biao)準千差萬別。按照國際上的標(biao)準來(lai)(lai)說(shuo),濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du)范圍參(can)數(shu)一般是基于15-30℃溫度(du)(du)(du)(du)下(xia)來(lai)(lai)定義的,個別特殊的箱體(ti)例(li)外。因此(ci)我們(men)在(zai)選擇(ze)箱體(ti)時要注(zhu)意各廠(chang)商的濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du)范圍參(can)數(shu)是在(zai)什么溫度(du)(du)(du)(du)下(xia)進(jin)行測(ce)量的。
高低溫試(shi)驗箱(xiang)需滿足的試(shi)驗標準
該設備主要(yao)是針對于電工、電子(zi)產品,以及其(qi)(qi)原器件,及其(qi)(qi)它材料在(zai)高溫(wen)、低溫(wen)、溫(wen)濕度及其(qi)(qi)循(xun)環變化的(de)(de)環境下貯存、運輸、使(shi)用時的(de)(de)適應性試驗。
滿足試驗標準:
GB 10589-2008 《低(di)溫試驗箱技術條件》
GB 11158-2008 《高(gao)溫試(shi)驗(yan)箱技術條件(jian)》
GB 10592-2008 《高低(di)溫試(shi)驗箱(xiang)技(ji)術條件(jian)》
GB2423.1-2008 《電工電子(zi)產(chan)品基本試(shi)驗(yan)規程 試(shi)驗(yan)A:低溫試(shi)驗(yan)方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產品(pin)基(ji)本試驗規程 試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產品基本試(shi)驗規程 試(shi)驗Db:交變試(shi)驗方法》
GB2424.1-2005 《電工(gong)電子產(chan)品(pin)基(ji)本(ben)環(huan)境試(shi)(shi)驗規程 高溫(wen)低溫(wen)試(shi)(shi)驗導則》
GB2423.22-2008 《電工電子產品基本試驗(yan)(yan)規程 試驗(yan)(yan)N:溫度(du)變(bian)化試驗(yan)(yan)方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子(zi)產(chan)品(pin)環境試驗設備(bei)基本參數檢定方法 溫度試驗設備(bei)》
GB2423.3-2008試驗C《恒定濕熱試驗方法(fa)》;
GB2423.4-93試驗(yan)D《交變濕(shi)熱試驗(yan)方法》
東莞恒(heng)工設備是從事恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang),步(bu)入式(shi)環境試(shi)驗室,快(kuai)速(su)溫(wen)變(bian)試(shi)驗箱(xiang),冷熱沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang),高低溫(wen)低氣(qi)壓試(shi)驗箱(xiang)等,業務(wu)聯系:潘先生