影響恒溫恒濕箱內箱溫濕度均勻度的因素原因分析

影響恒溫恒濕箱內箱溫濕度(du)均勻(yun)度(du)的(de)因素原因分(fen)析
 A、熱(re)負載：如果如果試(shi)驗箱工(gong)作(zuo)室內放置了足夠(gou)影響內部整體熱(re)對流的(de)試(shi)驗樣品，必然會在一定程度上影響內部溫(wen)度的(de)均勻性(xing)，比如說(shuo)放置LED照(zhao)明產(chan)品，產(chan)品自身存在發光發熱(re)，成(cheng)為熱(re)負載，那么對于溫(wen)度均勻度的(de)就(jiu)存在很大的(de)影響。   

B、熱(re)(re)傳(chuan)遞(di)：由于工作室的(de)箱壁(bi)(bi)前后左右(you)上(shang)下(xia)6個面的(de)傳(chuan)熱(re)(re)系數不同，有(you)的(de)有(you)穿(chuan)線(xian)孔(kong)(kong)、檢測孔(kong)(kong)、測試(shi)孔(kong)(kong)等導(dao)致局部有(you)散熱(re)(re)、傳(chuan)熱(re)(re)，使(shi)箱體溫度(du)不均(jun)勻(yun)，從(cong)而使(shi)箱壁(bi)(bi)幅射對流傳(chuan)熱(re)(re)也不均(jun)勻(yun)，影(ying)響溫度(du)均(jun)勻(yun)。  

C、熱輻射：設(she)計(ji)(ji)上的(de)(de)(de)(de)問題導致驗箱在(zai)內部結構、空(kong)間的(de)(de)(de)(de)設(she)計(ji)(ji)很難(nan)達到均勻(yun)的(de)(de)(de)(de)對(dui)稱結構，恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試驗箱而不對(dui)稱的(de)(de)(de)(de)結構必然會導致內部溫度(du)(du)均勻(yun)度(du)(du)產生偏(pian)差，這個層面主要(yao)反映(ying)在(zai)鈑金(jin)設(she)計(ji)(ji)以及(ji)鈑金(jin)處理方面，諸如：風道(dao)的(de)(de)(de)(de)設(she)計(ji)(ji)、發(fa)熱管(guan)的(de)(de)(de)(de)放置位置、風機(ji)功(gong)率的(de)(de)(de)(de)大小等原因   

D、密(mi)封(feng)性(xing)：箱體(ti)和門的(de)密(mi)封(feng)性(xing)不嚴(yan)，比如：密(mi)封(feng)條(tiao)非定制的(de)有接縫(feng)，大門漏氣等(deng)，從(cong)而影(ying)響工作空間的(de)溫度均勻(yun)性(xing)。   

E、被測(ce)樣品(pin)選擇與擺放的(de)(de)(de)合理(li)性：如(ru)果試(shi)(shi)驗(yan)對(dui)象體積(ji)過(guo)大，恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱(xiang)(xiang)或試(shi)(shi)驗(yan)對(dui)象放置在試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)工作室內的(de)(de)(de)位置或方(fang)式不合適(shi)，使里面空氣對(dui)流受(shou)(shou)阻(zu)，也會(hui)產生較(jiao)大的(de)(de)(de)溫(wen)度(du)(du)均勻度(du)(du)的(de)(de)(de)偏差。諸(zhu)如(ru)將試(shi)(shi)驗(yan)產品(pin)放在風(feng)道旁邊(bian)，嚴(yan)重影(ying)響風(feng)的(de)(de)(de)循環(huan)，當然溫(wen)度(du)(du)的(de)(de)(de)均勻度(du)(du)會(hui)受(shou)(shou)到很大的(de)(de)(de)影(ying)響。   

F、由于內壁(bi)結(jie)構(gou)不同，所以會(hui)(hui)導致試驗箱(xiang)內壁(bi)的溫度(du)(du)也會(hui)(hui)不均勻，進而影響(xiang)工(gong)作室內的熱對流造成內部(bu)溫度(du)(du)均勻度(du)(du)產生(sheng)偏差。

恒溫恒濕箱不(bu)制冷的原(yuan)因分(fen)析(xi)

   由(you)于客戶經(jing)常會遇(yu)到(dao)恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)設(she)備不(bu)制冷的狀況，所(suo)以今(jin)天就這個問題一起來(lai)研究和探討下：
原因一：
1.由于是(shi)溫度保持不住，觀察(cha)制冷壓縮(suo)機(ji)在試驗箱運(yun)行過程中是(shi)否能夠(gou)啟動，壓縮(suo)機(ji)在環境試驗設(she)備運(yun)行過程中都能夠(gou)啟動，說明從主電源到各(ge)壓縮(suo)機(ji)的電器線路(lu)正(zheng)常(chang)，電器系統方面(mian)也沒有問(wen)題。
2.系(xi)統沒有(you)問題，繼續(xu)檢查制(zhi)冷(leng)系(xi)統。首先檢查兩組(zu)制(zhi)冷(leng)機(ji)(ji)(ji)組(zu)的低溫（R23）級壓縮機(ji)(ji)(ji)的排(pai)氣(qi)和吸(xi)氣(qi)壓力都較正常值(zhi)偏(pian)低，而且吸(xi)氣(qi)壓力呈(cheng)抽(chou)空狀(zhuang)態(tai)，說明主制(zhi)冷(leng)機(ji)(ji)(ji)組(zu)的制(zhi)冷(leng)劑量不足。
3.用手摸主機組R23壓縮機的排(pai)氣(qi)和吸(xi)氣(qi)管(guan)路，發(fa)現排(pai)氣(qi)管(guan)路的溫度不高(gao)，吸(xi)氣(qi)管(guan)路的溫度也不低（未結霜(shuang)），這也說(shuo)明(ming)了(le)主機組的R23制冷劑缺乏。
原因二：
1.未確(que)定故(gu)障原因(yin)，結(jie)合(he)試驗(yan)箱的(de)控制過程進一步確(que)認(ren)故(gu)障原因(yin)，該試驗(yan)箱擁(yong)有兩套制冷機組。
2.一(yi)(yi)(yi)為主(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)，另(ling)一(yi)(yi)(yi)為輔(fu)助(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)，在(zai)降(jiang)(jiang)(jiang)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)速率較大時(shi)，兩組(zu)(zu)(zu)(zu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)同時(shi)工(gong)(gong)作，在(zai)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)保持(chi)階(jie)段初期，兩組(zu)(zu)(zu)(zu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)依然同時(shi)工(gong)(gong)作。待溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)初步穩(wen)(wen)定(ding)下來，輔(fu)助(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)停止工(gong)(gong)作，由(you)主(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)來維持(chi)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)的(de)穩(wen)(wen)定(ding)。如(ru)果(guo)主(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)R23泄(xie)露(lu)，會(hui)(hui)使主(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)制(zhi)冷(leng)效果(guo)不大，由(you)于降(jiang)(jiang)(jiang)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)過程(cheng)中，兩機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)同時(shi)工(gong)(gong)作，故沒有溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)穩(wen)(wen)定(ding)不住的(de)現象(xiang)，而指示降(jiang)(jiang)(jiang)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)速率降(jiang)(jiang)(jiang)低(di)。在(zai)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)保持(chi)階(jie)段，一(yi)(yi)(yi)旦輔(fu)助(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)停止工(gong)(gong)作，主(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)又(you)(you)無制(zhi)冷(leng)作用，試驗箱內(nei)的(de)空氣就會(hui)(hui)緩慢上(shang)升，當(dang)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)上(shang)升到一(yi)(yi)(yi)定(ding)程(cheng)度(du)，控(kong)制(zhi)系統就會(hui)(hui)啟動輔(fu)助(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)來降(jiang)(jiang)(jiang)溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)，將溫(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)下降(jiang)(jiang)(jiang)至(zhi)設定(ding)值(zhi)（-55℃）附近(jin)，然后(hou)輔(fu)助(zhu)機(ji)(ji)(ji)組(zu)(zu)(zu)(zu)又(you)(you)停止工(gong)(gong)作，如(ru)此反復(fu)，便(bian)會(hui)(hui)出現如(ru)圖3所示的(de)故障現象(xiang)。
   至此，已確認生產故障(zhang)的(de)(de)(de)(de)原(yuan)因是(shi)主機組的(de)(de)(de)(de)低溫（R23）級機組的(de)(de)(de)(de)制冷劑R23泄漏。對制冷系(xi)統進(jin)行(xing)(xing)查漏，用檢漏儀和(he)(he)肥皂(zao)水相結(jie)合(he)的(de)(de)(de)(de)方法檢查，發現一(yi)熱氣旁通電磁(ci)閥的(de)(de)(de)(de)閥桿(gan)裂了約1cm的(de)(de)(de)(de)細(xi)縫。更換此電磁(ci)閥，對系(xi)統重新充氟，系(xi)統運行(xing)(xing)正(zheng)常(chang)。由于(yu)上文可以看出，對該故障(zhang)現象的(de)(de)(de)(de)分(fen)析(xi)和(he)(he)判(pan)(pan)斷(duan)基(ji)本上是(shi)有易至難，先“外"后“里"，先“"后“制冷"的(de)(de)(de)(de)脈絡進(jin)行(xing)(xing)分(fen)析(xi)和(he)(he)判(pan)(pan)斷(duan)的(de)(de)(de)(de)，熟悉和(he)(he)了解(jie)試驗箱的(de)(de)(de)(de)原(yuan)理(li)和(he)(he)工作過程(cheng)是(shi)分(fen)析(xi)故障(zhang)判(pan)(pan)斷(duan)故障(zhang)的(de)(de)(de)(de)基(ji)礎

冷熱沖擊試驗(yan)箱特點(dian)和原(yuan)理

   主要用于電子電器(qi)零(ling)組件(jian)(jian)、自動化(hua)零(ling)部件(jian)(jian)、通訊組件(jian)(jian)、汽車配件(jian)(jian)、金屬、化(hua)學(xue)材料、塑膠等行業，國防(fang)工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁(ci)及高(gao)分子材料之(zhi)物理牲變化(hua),測(ce)試其材料對高(gao)、低溫的(de)(de)反復抵拉(la)力及產品于熱脹冷縮(suo)產出(chu)的(de)(de)化(hua)學(xue)變化(hua)或物理傷害(hai)，可確認產品的(de)(de)品質,從(cong)精(jing)密的(de)(de)IC到重機械(xie)的(de)(de)組件(jian)(jian)，無(wu)一(yi)不(bu)需要它的(de)(de)理想(xiang)測(ce)試工具。
   特點：
   1、上下兩箱(xiang)式結構(gou)轉換速度快，恢(hui)復時間短。操作簡便(bian)，合理的風道循環系統(tong)，溫度分布均勻(yun)。
   2、中英繁三(san)種語(yu)言液(ye)晶顯示程序控制器。強力制冷進口(kou)壓縮(suo)機，降溫(wen)速度快。完備可靠(kao)的安全裝置。
   3、蓄(xu)能方式可避(bi)免使(shi)用(yong)者(zhe)職業傷害(hai)；高可靠性設計，適合于24小時連續試(shi)(shi)驗；試(shi)(shi)料(liao)槽(cao)完全靜止，可由測試(shi)(shi)孔外加負(fu)載配(pei)線;
   4、采用觸控(kong)式彩色液晶顯(xian)示人機接(jie)口(kou)控(kong)制器，操作簡(jian)單，學習容(rong)易；溫度制御(yu)精度高，全(quan)部采用PID 自動演算制御(yu);
   5、可選擇始(shi)動位置，高溫或低溫開始(shi)循環(huan);具有(you)預(yu)約起(qi)動功能;可設定循環(huan)次數及自動除(chu)霜;可選擇二槽或三槽循環(huan);
   6、運轉(zhuan)狀態顯(xian)示;有(you)異(yi)常或(huo)故(gu)障顯(xian)示及排除方(fang)法說明;氣動式閥門方(fang)便開啟(qi)，保(bao)證氣密及斷熱保(bao)護.

三(san)箱式(shi)冷熱(re)沖擊(ji)試驗(yan)箱的工(gong)作原理

  A、低溫(wen)(wen)儲存室(shi)：箱內溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)狀態(tai)由風(feng)道(dao)中的加熱器(qi)(qi)、蒸發(fa)器(qi)(qi)以及風(feng)機(ji)的工作狀態(tai)決定。經過膨(peng)(peng)脹閥節(jie)流(liu)流(liu)出的制冷劑進(jin)入(ru)工作室(shi)內蒸發(fa)器(qi)(qi)后，吸收工作室(shi)內熱量并氣(qi)化(hua)，使工作室(shi)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)降(jiang)低;氣(qi)化(hua)后的工質被壓縮機(ji)吸入(ru)并壓縮成(cheng)(cheng)高溫(wen)(wen)、高壓氣(qi)體進(jin)入(ru)冷凝器(qi)(qi)中被冷凝成(cheng)(cheng)液體，再(zai)經篩檢程式，最后通過膨(peng)(peng)脹閥節(jie)流(liu)后，重(zhong)新又進(jin)入(ru)工作室(shi)內蒸發(fa)器(qi)(qi)中吸熱并氣(qi)化(hua)然后再(zai)被壓縮機(ji)吸入(ru)壓縮。如此往(wang)復回圈工作，使工作室(shi)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)降(jiang)到設置的溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)要(yao)求
  B、高溫儲存(cun)室：中央(yang)控制器(qi)從感溫元件檢測即時信(xin)號(hao)(hao)，與設定(ding)溫度信(xin)號(hao)(hao)進行比較，得(de)到比較信(xin)號(hao)(hao)，由儀表(biao)PID邏(luo)輯電路輸出信(xin)號(hao)(hao)控制固(gu)態(tai)繼電器(qi)的(de)(de)導通(tong)或關斷的(de)(de)時間(jian)比例調節加熱器(qi)輸出功(gong)率(lv)大小，從而達到自動控溫的(de)(de)目的(de)(de)。
  C、沖擊溫(wen)(wen)度測試(shi)(shi)室(shi)：由儀表自(zi)動(dong)控制高(gao)(gao)低(di)溫(wen)(wen)氣閥，在低(di)溫(wen)(wen)或高(gao)(gao)溫(wen)(wen)儲存(cun)室(shi)之間切換，分別與高(gao)(gao)溫(wen)(wen)箱(xiang)或低(di)溫(wen)(wen)箱(xiang)形成閉路(lu)空氣循環系統，迅速達(da)到試(shi)(shi)驗的(de)(de)目標溫(wen)(wen)度。試(shi)(shi)驗箱(xiang)內(nei)溫(wen)(wen)度狀態由風道中的(de)(de)加熱器、蒸發器、及風機的(de)(de)工(gong)作狀態決(jue)定(ding)。試(shi)(shi)驗箱(xiang)工(gong)作室(shi)內(nei)采用強制軸流“散性”式回圈風工(gong)作，可以大大提高(gao)(gao)設備(bei)運行的(de)(de)波動(dong)度、均勻度等參數(shu)。

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